产品资料
DAGE Quadra 3 X射线检测机 Q3X-ray
产品型号:Quadra™ 3
简介介绍:

Nordson DAGE作为世界知名的电子产品领域的X射线检测系统供应商,已推出第四代超高分辨率离线X射线检测系统X-Ray——Quadra™系列。集成革新性的QuadraNT™ X射线管和Aspire FP™探测器,Nordson DAGE 将把X射线检测系统X-Ray图像分辨率、可靠性、性能和产能发展到一个全新高度

详情介绍

DAGE Quadra 3 X射线检测机 X-ray

Nordson DAGE 始终坚信要为客户提供检测的解决方案,并不断超越自身极限。我们的专家在设计、开发和生产适用于电子行业的X射线检测系统的同时,还独立掌握X射线检测成像链的所有技术。集成企业的QuadraNT™ 射线管、AspireFP™探测器、Gensys™检测软件和QuadraGen™高压发生器——Quadra™系列是精益求精的一代新产品。

Quadra™ 3 可用于高放大倍率下的高质量X射线检测,实现各类生产应用的质量控制。可检测各种制造缺陷 , 包括BGA、QFN和IGBT焊接,PTH填充,界面空洞,元器件开裂和伪造产品。

DAGE Quadra 3 X射线检测机 X-ray

清晰而易于识别的图像可快速显示缺陷。Nordson DAGE的 Aspire™FP 探测器由自主设计和制造,专用于电子样品检测。

借助Quadra独特的双倾斜轴几何结构,可以快捷方便地找到缺陷。可从各个角度下高放大倍率查看每个细节,而无需旋转样品。

QuadraNT™X射线源采用免换灯丝的砖利技术,因此无需定期进行预防性维护工作,从而减少了停机时间和运行成本。

DAGE Quadra 3 X射线检测机 X-ray

QuadraNT™ X 射线管

类型:密封式透射管
特征分辨率:0.95微米
功率:10瓦
电压:30-160千伏

Aspire FP 探测器

分辨率:140万像素
帧率:10 帧/秒
像素点间距:75 微米
数字图像处理:16比特

检测

倾斜视角图:2 × 70 - 无需旋转样品
减振系统:被动
显示分辨率:94像素/英寸
检测区:510 x 445 毫米 (20 x 17.5 英寸)
几何放大倍率:2000 倍
总放大倍率:7500 倍
样本重量(标准盘):5千克(11磅)
显示器:单,24寸,宽屏超级扩展图形阵列,分辨率为 1920 x 1200

系统

尺寸: 1570(宽) x 1500(深) x 1900(高)毫米
系统重量:1950千克 (4300磅)
电源:单相200-230伏(交流),50/60赫兹,16安
典型耗电量:1千瓦
运行温度:10-30oC
湿度:<85%(非冷凝)
操作:鼠标
操作系统:Windows 10 64位
X射线性:X射线泄漏量小于 1μSv/hr,满足所有国际标准

专注为电子制造商提供如下SMT设备:

锡膏印刷机锡膏测厚仪SPI、SMT贴片机HELLER回流焊、光学检测AOI、X-Ray X光射线检测机、等整条SMT生产线设备,以及服务和解决方案

专注为封测厂提供如下半导体封测设备:

DieBond固晶机、DieAttach晶圆贴片机粘片机、WireBond焊线机引线键合机、Molding塑封机、WaferGrinding研磨机、WaferSaw切割机、X-RayDageX光检测机、BondTest推拉力测试机、Plasma等离子清洗机、C-SAM超声波扫描、原子力显微镜、先进封装电镀等设备

提供从IC Design→Fabless→封装测试→SMT表面组装的整套集成电路电子制造的行业资源,设备及解决方案

粤公网安备 44030702002241号