详情介绍

原子力显微镜NX10技术参数：
扫描器
Z扫描器
柔性引导高推动力扫描器
扫描范围：15μm(可选 30μm)
分辨率：0.015 nm
位置探测器噪声：0.03 nm (带宽: 1 kHz)
共振频率：> 9 kHz （通常10.5 kHz ）AFM测头
SICM测头
压电叠堆的挠性结构
Z扫描范围：25 μm
位置探测器噪声：0.03 nm (带宽: 1 kHz)
XY 扫描器
闭环控制的柔性引导XY扫描器
扫描范围：50 μm × 50 μm (可选 10 μm × 10 μm or 100 μm × 100 μm)
分辨率：0.05 nm
位置探测器噪声：< 0.25 nm (带宽: 1 kHz)
离面运动：< 2 nm (扫描超过40 μm)
驱动台
样品容量：开放空间为100 mm x 100 mm，厚度值为20mm
样品重量：500g
XY位移台行程范围：20 mm x 20 mm
Z位移台行程范围：25 mm
聚焦样品台行程范围：15 mm
影像
样品表面和悬臂的直观同轴影像
视野：480 μm × 360 μm (10倍物镜)        
CCD: 1 Mpixel (像素分辨率: 0.4 μm)        
5 Mpixel (像素分辨率: 0.2 μm)
物镜
10倍 (0.21NA) 超长工作距离镜头(1μm分辨率)
20倍 (0.42NA) 高分辨率，长工作距离镜头(0.6μm分辨率)
电子
信号处理
ADC: 18 通道
ADC通道 (64 MSPS)
24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 扫描器位置传感器
DAC:11通道
DAC通道（64MSPS））
20-bit DAC的 X, Y 和 Z 扫描器定位
数据量：4096 x 4096像素
集成功能
3通道数字锁相放大器
弹性系数校准(热方法)
数据Q 控制
连接外部信号
20个嵌入式输入/输出端口
5个TTL输出： EOF, EOL, EOP, Modulation,and AC bias
选项/模式
标准成像
实际非接触模式
接触模式
侧向摩擦力显微术 （LFM)
相位成像模式
轻敲模式
化学性能
功能化探针的化学力显微镜
电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)
介电／压电性能
静电力显微镜
动态接触式静电力显微镜(EFM-DC)
压电力显微镜 (PFM)
高电压PFM
力测量
力－距离（F-D)光谱
力谱成像
磁性能
磁力显微镜 （MFM)
可调MFM
热性能
扫描热显微镜(SThM)
电性能
Pinpoint 导电AFM (CP-AFM)
I-V谱线
扫描开尔文探针显微镜 (SKPM/KPM)
高电压SKPM
QuickStep扫描电容显微镜(SCM)
扫描电阻显微镜(SSRM)
扫描隧道显微镜(STM)
扫描隧道光谱(STS)
光电流测绘(PCM)  
机械性能
Pinpoint模式
力调制显微镜(FMM)
纳米压痕
纳米刻蚀
高电压纳米刻蚀
纳米操纵
软件
Park SmartScan™
AFM系统控制和数据采集的专用软件
智能模式的快速设置和简易成像
手动模式的**使用和更精密的扫描控制
XEI
AFM数据分析软件
独立设计——-可独立安装和分析数据
能够生成采集数据的3D绘制